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热释光剂量片概述

1、重复性：LiF:Mg,Cu,P探测器的重复性能随使用次数的增加趋于更加稳定，一般均在上百次以上；

2、线性：LiF:Mg,Cu,P探测器线性范围为10-7～30Gy；

3、长期稳定性：在环境温度低于40℃的环境下，累积剂量信息的减退在3-6个月内可以忽赂不计，若环境温度≥50℃时，则其剂量信息的减退约为（3-5）％/月。

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热释光的使用

使用热释光元件可以重复使用。但是，经***照射后的热释光体只允许一次加热测量，因为加热后，储存的信息就被***了，不能复查测量结果。如对LiF，要在400℃下保持1h，在该条件下，可使400℃下的所有发光峰陷阱中的电子全部释放出来，而陷阱能级并不***。在剂量监测中，万一某次测量失误，测量结果就被丢失。要再次使用时，热释光体要用高温退火。对不同材料，退火温度不完全相同。如对LiF，要在400℃下保持1h，在该条件下，可使400℃下的所有发光峰陷阱中的电子全部释放出来，而陷阱能级并不***。

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热释光探测器的依据标准

热释光探测器的基本依据是某些材料的晶体受辐射照射后具有能量累积储存作用。当加热到一定温度时又以发光的形式释放能量，而且与受照射剂量成正比关系。

当磷光体（晶体）受到电离辐照时，射线与晶体相互作用，产生电离和激发，使晶体价带中的电子获得足够的能量游离出来，上升到导带，在价带中剩下空穴。以上就是关于热释光剂量片的相关内容介绍，如有需求，欢迎拨打图片上的***电话。被电离激发的电子空穴在亚稳态能级分别被晶体中的缺陷所俘获（激发），这些缺陷称为“陷阱”（俘获电子的缺陷）或“中心”（俘获空穴的缺陷），统称为“发光中心”。处于亚稳态能级上的电子和空穴在无外源激发的环境下，可以长时间滞留在缺陷中。随着时间的积累，辐射剂量增加，被缺陷俘获的受电离激发的电子和空穴数量增加，所以在线性剂量范围内磷光体热释光的强度与所接受的辐射剂量成正比。

当加热磷光体时，电子和空穴从发光中心中逸出，电子和空穴快速复合，或游弋经导带后与禁带中的空穴复合。在上述几种复合过程中，都以可见光或紫外光的形式释放能量，这种现象称为热释光。

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